Este documento contiene los criterios de evaluación para la asignatura Instrumentación Electrónica impartida en el Dpto. de Ingeniería Electrónica de la Univ. De Sevilla, y correspondiente al cuarto curso de la titulación de Ingeniero de Telecomunicación.

Los criterios aquí expuestos se ajustan, en todo caso, a lo dispuesto en las Normas Reguladoras de Exámenes, Evaluación y Calificación de la Univ. de Sevilla, aprobadas en Junta de Gobierno el 6 de Febrero de 1989.

La asignatura consta de dos partes:

1. Parte teórica de 4.5 créditos (1.5 horas semanales).
2. Parte Práctica con 3 créditos (1 hora semanal).

La troncalidad de esta asignatura se desglosa en:

• Circuitos y equipos electrónicos especiales.
• Aplicaciones a las comunicaciones y al control.
• Instrumentación electrónica avanzada.

CAPITULO I. INTRODUCCIÓN A LA INSTRUMENTACIÓN.

Tema 1. Introducción a la Instrumentación. [1]

Tema 2. Características de transferencia. [12]

Tema 3. Fiabilidad. [12]

CAPITULO II. TRANSDUCTORES. INTRODUCCIÓN.

Tema 4. Transductores. Introducción. [2][3].

CAPITULO III. ACONDICIONAMIENTO DE LA SEÑAL.

Tema 5. Referencia de tensión y corriente. [2]

Tema 6. Divisores de impedancia y puentes. [2]

Tema 7. Amplificación y aislamiento. [2]

Tema 8. Adquisición de datos. [4][12]

Tema 9. Ruido, deriva y offset. [3][6][12]

CAPÍTULO IV. INTERFERENCIAS ELECTROMAGNÉTICAS.

Tema 10. Introducción a las Interferencias electromagnéticas. [7][8]

Tema 11. Blindajes y apantallamientos. [7][8]

Tema 12. Conexión de señales. [7][8]

Tema 13. Filtros EMI. [7][8]

Tema 14. Protección contra descargas. [7][8]

Tema 15. Medida de inteferencias. [7][8]

CAPITULO V. TRANSDUCTORES INDICADORES.

Tema 16. Indicadores electromecánicos. [1][12]

Tema 17. Indicadores luminosos. [10][12]

Tema 18. Tubo de rayos catódicos. [1][12]

CAPITULO VI. INSTRUMENTACIÓN BASICA DE LABORATORIO ELECTRÓNICO.

Tema 19. Multímetro. [1]

Tema 20. Generadores de señal. [1]

Tema 21. Osciloscopio. [1][NA1][NA2][NA3]

CAPITULO VII. INSTRUMENTACIÓN PARA MEDIDA EN EL DOMINIO DE LA FRECUENCIA.

Tema 22. Analizadores de señal. [1][9][NA4][NA5]

Tema 23. Analizadores de red. [1][9]

CAPITULO VIII. TRANSDUCTORES.

Tema 24. Transductores de medida de temperatura. [3][12]

Tema 25. Transductores para medidas eléctricas y magnéticas. [NA6][NA7]

Tema 26. Transductores de sonido y ultrasonido. [11][12]

Tema 27. Transductores de radiación luminosa. [10][12]

Tema 28. Otros transductores.

[1] W. D. Cooper y Albert D. Helfrick, "Instrumentación Electrónica Moderna y Técnicas de Medición", Prentice Hall Hispanoamericana 1991.

[2] Jesús Díaz Rodríguez, José A. Jiménez Calvo y F. J Meca Meca. Introducción a la Electrónica de Medida I (ISBN 8481380814) y II (ISBN 8481389684). Departamento de Electrónica, Universidad de Alcalá de Henares.

[3] Ramón Pallas Areny, Transductores y Acondicionadores de Señal, Marcombo, 1989.

[4] R. Pallas Areny, Adquisición y Distribución de señales, Marcombo, 1993.

[5] Anton F. P. Van Putten, "Electronic Measurement Systems", Prentice Hall, 1988.

[6] D. Motchenbacher y J.A. Connelly, "Low-Noise Electronic System Design". John Willey & Sons, Inc. 1993.

[7] Alain Charoy, Parásitos y perturbaciones en electrónica, Paraninfo, 1996.

[8] Josep Balcells, Francesc Daura, Rafael Esparza, Ramón Pallás, "Interferencias Electromagnéticas en sistemas electrónicos". Serie Mundo Electrónico, Ed. Marcombo 1992.

[9] R. A Witte, Spectrum and Network Measurement , Prentice Hall, 1993.

[10] Endel Uiga, Optoelectronics . Prentice Hall 1995.

[11] L. E. Kinsler, A.R. Frey, A.B. Coppens, J. V. Sanders, "Fundamentos de Acústica", Ed. Limusa. (ISBN 968-18-2026-6).

[12] John P. Bentley, Principles of Measurement System Editorial: Longman. Tercera edición de 1995. ISBN: 0-582-23779-3

[NA1] El xyz del Osciliscopio. Tektronix.

[NA2] El abc de osciloscopio digital. Tektronix.

[NA3] ABC’s of probes. Tektronix.

[NA4] Spectrum Analysis. AN150 Hewlett Packard, 1989.

[NA5] The fundamentals of signal analysis. AN243, Hewlett Packard, 1994.

[NA6] Fudamentals of RF and Microwave Power Measurements AN64-1 A, Hewlett Packard, 1997.

[NA7] Voltage and Power Measurement, Rohde&Schwarz.

• E. O. Doebelin, Measurement Systems. Application and Design , Mc--Graw--Hill, 1990.
• P. H. Sydenham, Handbook of Measurement Science. Volume I , Wiley, 1982.
• P. H. Sydenham, Handbook of Measurement Science. Volume II , Wiley, 1982.
• H. N. Norton, "Handbook of transducers". Prentice Hall. 1989.
• W. J. Tompkins y J. G. Webster, Interfacing Sensors to IBM PC Prentice Hall, 1988.
• Robert F. Coughilin y Frederick F. Driscoll. Amplificadores Operacionales y Circuitos Integrados Lineales, Prentice Hall Hispanoamericana S.A.
• Jack Smith, Modern Communication Circuits, McGraw-Hill, Inc.
• H. L. Krauss, C. W. Bostian, F. H. Raab. Solid State Radio Engineering. Hohn Wiley & Sons.

Aún cuando la asignatura se considera un todo y no es aconsejable ni posible su división en unidades independientes, se realizará un agrupamiento de temas en dos parciales. Por tanto, se realizarán dos exámenes parciales a lo largo del curso. El primer parcial incluirá los temas del 1 al 14 inclusive y el segundo del 15 hasta el final.

Cada examen constará de un grupo de preguntas sobre los contenidos teóricos y prácticos de la asignatura. El examen en su conjunto se valorará de cero (0) a diez (10) puntos y para aprobar el examen será necesario obtener una media igual o superior a cinco (5). Los exámenes se dividen en dos partes: Teoría y problemas. La teoría puntúa un 60% de la nota final y los problemas un 40% de la nota final. Para hacer la medida del examen habrá de obtenerse al menos 2 puntos sobre 10 en cada parte. La parte teórica de los exámenes parciales y ocasionalmente de la convocatoria de Junio se dividirá, a su vez, en cuestiones y test, dándose una ponderación del 50% a cada parte.

El alumno es invitado a realizar trabajos voluntarios sobre temas de la asignatura bajo la supervisión de los profesores de ésta. Estos trabajos podrán aumentar la nota final del alumno.

Estos trabajos serán especialmente tenidos en cuenta cuando un alumno opte a una Matrícula de Honor en la asignatura.

Como se dijo anteriormente, se realizarán dos exámenes parciales a lo largo del curso. Estos exámenes se considerarán aprobados cuando la nota sea igual o superior a cinco (5) y la materia se considerará eliminada en la convocatoria de Junio.

Para aprobar la asignatura, el alumno debe aprobar ambos exámenes parciales y en ningún caso uno de ellos compensará al otro.

Si un alumno aprueba ambos parciales se considerará aprobado por curso y la nota final será la media de los dos exámenes parciales, aumentada en su caso, por el trabajo adicional realizado.

Si aprueba sólo un examen parcial, deberá presentarse en la convocatoria final de Junio exclusivamente al parcial no aprobado. Si en esta convocatoria el alumno aprueba el parcial suspenso, el alumno tendrá aprobada la asignatura y su nota final será la media de los dos parciales aprobados. En cualquier caso, si el alumno no aprueba toda o parte de la asignatura en la convocatoria de Junio, deberá examinarse de toda la asignatura en la convocatoria de Septiembre. Lo mismo para convocatorias sucesivas.

Eduardo Galván Díez.

Rogelio Palomo Pinto.